产品名称：MiniTest4100涂层测厚仪

技术指标： 型号 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存储的数据量 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 1 1 10 99 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值) - 1 10 99 可用各自的日期和时间标识特性的组数 - 1 500 500 数据总量 1 10000 10000 10000 MINITEST统计计算功能 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √ 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar - - √ √ 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 - - - √ 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 - - √ √ 显示并打印测量值、打印的日期和时间 - √ √ √ 其他功能 设置极限值 - - √ √ 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别*大*小值 - - √ √ 连续测量模式中测量稳定后显示读数 - - √ √ 连续测量模式中显示*小值 - - √ √

可选探头参数： 所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能 探头 量程 低端 分辨率 误差 *小曲率半径 (凸/凹) *小测量 区域直径 *小基 体厚度 探头尺寸 磁 感 应 法 F05 0-500um 0.1um ±(1%±0.7um) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F2/90 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5um ±(1%±10um) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10um ±(1%±10um) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10um ±(3%±50um) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 两 用 FN1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62mm FN1.6P 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面 30mm F0.5mm/N50um φ21x89mm FN2 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62mm 电 涡 流 法 N02 0-200um 0.1um ±(1%±0.5um) 1/10mm 2mm 50um φ16x70mm N.08Cr 0-80um 0.1um ±(1%±1um) 2.5mm 2mm 100um φ15x62mm N1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 2mm 50um φ15x62mm N1.6/90 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170mm N2 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 50um φ15x62mm N2/90 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170mm N10 0-10mm 10um ±(1%±25um) 25/100mm 50mm 50um φ60x50mm N20 0-20mm 10um ±(1%±50um) 25/100mm 70mm 50um φ65x75mm N100 0-100mm 100um ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50um φ126x155mm CN02 10-200um 0.2um ±(1%±1um) 平面 7mm 无限制 φ17x80mm F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。